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2020-09-11 PHI XPS-Comprehensive comprehensive electronic structure analysis platform

(This page is in Chinese only.  For details, please kindly contact our representative.)

 

时间:9月18日15:00-17:00

主题:不忘初心,创无止境I  PHI XPS-全面高性能电子结构综合分析平台

主讲人:Wensly

嘉宾:保秦烨

平台:腾讯会议+B站直播

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ULVAC-PHI,INC.在表面分析领域有着50余年的发展历史,专注于高灵敏、高能量分辨和高空间分辨技术研发,开发了一系列具有独特技术优势的表面分析设备,包括X射线光电子能谱(XPS)、反光电子能谱(IPES)、俄歇电子能谱(AES)、飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)以及串联质谱(Tandem MS/MSMS)等,这些分析设备可以提供元素组分、化学态、电子结构和分子结构等关键信息,为表面特性研究及材料/器件性能提升起到了重要的作用。

 

其中在X射线光电子能谱仪领域,PHI研发了独具特色的扫描聚焦型XPS,X射线束斑优于10 um,实现了对样品的元素组分及化学态微区分析功能,同时束斑可调的特点也兼顾了对常规样品的测试,成为科学研究、质量控制和失效分析等领域的利器。PHI一直秉持为用户提供最先进的表面分析技术的初心,在技术创新的道路上从未停歇,努力为用户提供从小束斑微区分析到大束斑高通量分析的完美XPS仪器。

 

由PHI CHINA举办的新的一期表面分析技术专题讲堂,将于9月18日15:00-17:00开展。高德英特中国区执行总监叶上远Wensly将带来“不忘初心,创无止境I  PHI XPS-全面高性能电子结构综合分析平台”的主题报告,跟大家分享PHI XPS的最新进展。

 

同时,我们还邀请了华东师范大学的保秦烨教授作为嘉宾,将为大家带来“光电子能谱在有机光伏、钙钛矿光伏研究中的应用”的报告,主要介绍UPS/XPS/IPES能谱技术,以及我们基于能谱技术在软物质光电材料(有机半导体,杂化钙钛矿)表/界面物性方面的研究进展。

 

 

参会方式:

时间:9月18日

腾讯会议:515 857 566

https://meeting.tencent.com/s/XCmHDdn8YiUr

B站直播:

https://live.bilibili.com/21820621