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在2012年9月24至26日，高德英特（北京）有限公司与北京清华大学合办了2012年表面分析应用发展研讨会。超过20个用户提出了分别利用XPS，AES和TOF-SIMS表面分析技术所做出的最新应用。

此次研讨会的最大目的是，希望在整个相关的领域上分享包括最新的研究成果，技术知识和应用方向，以冀达到建立一个强大的应用共享平台的最终目标。